Loading...

兵庫ものづくり支援センター阪神:設備一覧

兵庫ものづくり支援センター阪神:設備一覧

設備の利用及び利用料については、各センターへお問い合わせください。

高速CNC3次元座標測定装置

高速CNC3次元座標測定装置
メーカー
CarlZeiss社
型式
PRISMO 5 HTG VAST
仕様
各軸ストローク X700mm,Y900mm,Z500mm 
(測定範囲) 約500mm立方
測定精度 E=1.9+L/300μm

複雑な3次元自由曲面を有する金型、成形物などの寸法を高精度に計測する接触式3次元座標測定機

高精度CCDカメラシステム

高精度CCDカメラシステム
メーカー
(株)キーエンス社
型式
VHX-2000
仕様
倍率:1~3,000倍
画素数:2,11万画素
ステージサイズ:171mm×168mm
試料重量:1kg以下
観察方法(照明):落射および透過

部品形状、表面状態の拡大観察、3D形状の観察、断面形状測定、寸法の簡易測定、写真撮影が可能

原子間力顕微鏡(AFM)

原子間力顕微鏡(AFM)
メーカー
(株)キーエンス社
型式
VN-8010
仕様
垂直分解能:0.3nm
観察範囲:(XY)200nm~200µm(Z)±10µm
モニタ倍率:250~1,250倍

微細な表面形状を高倍率で観察する。試料表面状態の超高精細観察が可能
平滑平面、超微細構造物の超高精細観察が可能

[主な構成]
1. AFM部
2. デジタルマイクロスコープ部

蛍光X線分析装置(XRF)

蛍光X線分析装置(XRF)
メーカー
(株)リガク
型式
ZSX PrimusⅡ
仕様
分析可能元素 C(カーボン)~U(ウラン)
バルク試料サイズ φ35mm以下、10mm以上
試料形態 バルク、粉末、水溶液

材料に含まれる元素の種類と含有量を高精度に測定する。
金属、セラミックス、樹脂など幅広い素材に対応

走査型電子顕微鏡(SEM)

走査型電子顕微鏡(SEM)
走査型電子顕微鏡(SEM)
メーカー
日本電子(株)
型式
JSM-6390A
仕様
倍率:5~300,000倍
分析可能元素:C(カーボン)~U(ウラン)
分解能:3.0nm(2次電子分解能)
試料:Φ30mm以下

試料表面を大きく拡大して表面形状などを観察する。
表面や断面の異物などの化学組成、元素分析ができる。

ナノクラスター形成装置

ナノクラスター形成装置
メーカー
日立造船(株)
仕様
レーザ発振 ランプ励起:YAG方式
レーザ波長: 1,064nm、532nm、266nm選択
クラスター粒径:5~100nm
クラスター生成速度: 1010個/(mm2・s)以上

レーザアブレーションされた物質を楕円球内に閉じ込め、粒子サイズをそろえて放出し、各種材料の微粒子を生成する。材料・部品へのコーティング、粉末冶金、新機能材料(低温接合、光触媒、水素吸蔵材、ナノバイオ関連材料)の創成に活用の可能性がある。


ページトップへ